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Cebraspe · Empresa Brasileira de Pesquisa Agropecuária (EMBRAPA) 2025

Questão 85 — Metrologia: Conceitos e Instrumentos de Metrologia

Metrologia Conceitos e Instrumentos de Metrologia

Cebraspe 2025

Empresa Brasileira de Pesquisa Agropecuária (EMBRAPA) · Técnico – Área: Mecânica – Subárea: Mecânica de Precisão · Caderno Opção 40004381

Gabarito disponível

Acerca de conceitos, instrumentos e práticas envolvidos na metrologia, julgue os itens a seguir.

Um instrumento de medição de referência metrológica padrão de fábrica deve produzir resultados com menor incerteza de medição para que seja utilizado na calibração de instrumentos de trabalho tidos como chão de fábrica.
Selecione uma alternativa

Padrões de referência devem ter menor incerteza que os instrumentos calibrados.

Na hierarquia metrológica e na rastreabilidade, o padrão usado na calibração deve ter incerteza menor (em geral, bem menor) que a do instrumento calibrado. Assim, o padrão de referência da fábrica serve para calibrar os instrumentos de trabalho do chão de fábrica.

Análise das alternativas

Certo está correto. Errado negaria a necessidade de o padrão ser mais exato que o instrumento calibrado.

Referência: VIM; rastreabilidade metrológica.

Resolução comentada do VaiConcursos.

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Gabarito: Certo

Fonte: Gabarito preliminar: Gabarito oficial definitivo — Opção 40004381